Технологичен каталог
Онлайн каталогът съдържа информация за част от научните разработки, софтуер, технологии и методологии, разработени от колективите на СУ "Св. Кл. Охридски" и предложени от тях за комерсиализация.
В момента е натрупана информация в 4 основни категории: Информационни технологии, Химия, Физика и Биология, като базата от данни се разширява постоянно.
При интерес от Ваша страна, както и ако не намерите необходимата Ви информация, моля свържете се с нас и отправете запитване.
Филтър по категория
Подробна информация за избрана технология
Елипсометрично характеризиране на покрития – тънки покрития; слоеве; слънчеви батерии
Описание: Елипсометрията е недеструктивна и безконтактна оптична техника за изследване и измерване на тънки покрития. Това е оптична технология, която използва промяната на поляризацията на светлината, която се отразява от повърхността на изследваната проба. Основно се използва за характеризиране на дебелината на еднослойни или многослойни тънки покрития от порядъка на 10 -10 – 10 -6 m. Измерването може да даде информация за дебелината на покритието, евентуални грапавини или дефекти на изследвания образец. Лабораторията разполага с елипсометър и разработен софтуер за елипсометрични измервания.
Категория: Физика
Лаборатория/звено: Лаборатория по биофизика и медицинска физика
Факултет: Физически факултет
Организация: СУ "Св. Климент Охридски"
|