ЦЕНТЪР ЗА ТРАНСФЕР НА ТЕХНОЛОГИИ

СУ "Св. Климент Охридски"

Technologies

Технологичен каталог

Онлайн каталогът съдържа информация за част от научните разработки, софтуер, технологии и методологии, разработени от колективите на СУ "Св. Кл. Охридски" и предложени от тях за комерсиализация.

В момента е натрупана информация в 4 основни категории: Информационни технологии, Химия, Физика и Биология, като базата от данни се разширява постоянно.

При интерес от Ваша страна, както и ако не намерите необходимата Ви информация, моля свържете се с нас и отправете запитване.

Филтър по категория

Елипсометрично характеризиране на покрития – тънки покрития; слоеве; слънчеви батерии
Категория: Физика
Проектиране и разработка на детектори за йонизиращи лъчения
Категория: Физика
Електрохимично определяне свойства на интерфейси - потенциометрично, импедансометрично
Категория: Физика
Drug design - моделиране на лекарства, МК моделиране на биологични молекули
Категория: Физика
Системи за набор на данни и контрол на апаратура и процеси.
Категория: Физика
Измерване на намагнитеност на различни парамагнитни, феромагнитни и феримагнитни материали.
Категория: Физика
Измерване на магнитен хистерезис на феро- и феримагнитни материали и определяне на основните му характеристики (намагнитеност на насищане, остатъчна намагнитеност и коерцитивна сила)
Категория: Физика
Измерване магнитната възприемчивост и температура на Кюри на различни парамагнитни материали.
Категория: Физика
Определяне на магнитна анизотропия и основните ѝ характеристики по метода на въртящия момент.
Категория: Физика
Измерване на магнитосъпротивление по четириконтактен метод.
Категория: Физика
12

Подробна информация за избрана технология

Елипсометрично характеризиране на покрития – тънки покрития; слоеве; слънчеви батерии
Описание: Елипсометрията е недеструктивна и безконтактна оптична техника за изследване и измерване на тънки покрития. Това е оптична технология, която използва промяната на поляризацията на светлината, която се отразява от повърхността на изследваната проба. Основно се използва за характеризиране на дебелината на еднослойни или многослойни тънки покрития от порядъка на 10 -10 – 10 -6 m. Измерването може да даде информация за дебелината на покритието, евентуални грапавини или дефекти на изследвания образец. Лабораторията разполага с елипсометър и разработен софтуер за елипсометрични измервания.
Категория: Физика
Лаборатория/звено: Лаборатория по биофизика и медицинска физика
Факултет: Физически факултет
Организация: СУ "Св. Климент Охридски"